چرخه P/E یا P/E CYCLES چیست ؟
P/E مخفف کلمه PROGRAM / ERASE است. این اصطلاح از زمان تولید فلش مموری به وجود آمد و معیاری برای اندازه گیری استقامت و تحمل حافظه های ذخیره سازی می باشد . هر حافظه ذخیره سازی یا فلش مموری P/E CYCLE محدودی دارد به این خاطر که هر چرخه با برنامه ریزی و پاک کردن، باعث آسیب دیدن فلش مموری می شود که در طول مدت زمان و چرخه های بسیار زیاد باعث از بین رفتن بلاک ها می شود. P /E CYCLES در تکنولوژی های فلش متفاوت است.
جدول زیر میزان چرخه P/E بر اساس نوع فلش را مشخص می کند.
| نوع فلش | میزان استقامت |
|---|---|
| SLC NAND | 100,000 |
| MLC NAND | 5,000 to 10,000 for medium-capacity applications; 1,000 to 3,000 for high-capacity applications |
| TLC NAND | 1,000 |
| 3D MLC NAND | 6,000 to 40,000t |
| 3D TLC NAND | 1,000 to 3,000 |
| SLC (floating-gate) NOR | 100,000 to 1,000,000 |
| MLC (floating-gate) NOR | 100,000 |
