چرخه P/E یا P/E CYCLES چیست ؟

P/E مخفف کلمه PROGRAM / ERASE  است. این اصطلاح از زمان تولید فلش مموری به وجود آمد و معیاری برای اندازه گیری استقامت و تحمل حافظه های ذخیره سازی می باشد . هر حافظه ذخیره سازی یا فلش مموری P/E CYCLE محدودی دارد به این خاطر که هر چرخه با برنامه ریزی و پاک کردن، باعث آسیب دیدن فلش مموری می شود که در طول مدت زمان و چرخه های بسیار زیاد باعث از بین رفتن بلاک ها می شود. P /E CYCLES در تکنولوژی های فلش متفاوت است.

جدول زیر میزان چرخه P/E بر اساس نوع فلش را مشخص می کند.

نوع فلش میزان استقامت
SLC NAND 100,000
MLC NAND 5,000 to 10,000 for medium-capacity applications;
1,000 to 3,000 for high-capacity applications
TLC NAND 1,000
3D MLC NAND 6,000 to 40,000t
3D TLC NAND 1,000 to 3,000
SLC (floating-gate) NOR 100,000 to 1,000,000
MLC (floating-gate) NOR 100,000

 



شبکه های اجتماعی
تماس با ما
ارتباط مستقیم